发明名称 多光轴光电传感器系统
摘要 本发明能够准确且迅速设定适应实际应用的浮动消隐功能。检测处理部,将形成于多个投光元件与多个受光元件之间的多条光轴作为检测区域,基于每通过一次扫描进行光轴的选择动作时,判断各光轴是否处于遮挡状态的结果,输出检测信号。检测处理部,在因能够在检测区域内移动的物体导致至少任一条光轴经常处于遮挡状态时,当遮挡光轴数量大于预先设定的最大光轴数量时,输出检测信号。检测处理部当遮挡光轴数量小于预先设定的最小光轴数量时,输出检测信号。学处理部,每通过一次扫描进行光轴的选择动作时,取得因物体导致处于遮挡状态的光轴数量,基于比较在各个循环(各次扫描)中取得的遮挡光轴数量的结果,设定最大光轴数量以及最小光轴数量。
申请公布号 CN105319606A 申请公布日期 2016.02.10
申请号 CN201510409722.7 申请日期 2015.07.13
申请人 欧姆龙株式会社 发明人 冈本和伦;桥本实;菊池启作;尾﨏一功
分类号 G01V8/20(2006.01)I 主分类号 G01V8/20(2006.01)I
代理机构 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人 魏彦;金相允
主权项 一种多光轴光电传感器系统,其特征在于,具有:投光部,具有排列配置为直线状的多个投光元件,受光部,具有与所述多个投光元件分别相向配置的多个受光元件,检测处理部,将形成于所述多个投光元件与所述多个受光元件之间的多个光轴作为检测区域,每将光轴的选择动作进行一个循环时都判断所述多个光轴中的各光轴是否处于遮光状态,基于该判断结果来输出检测信号;在能够在所述检测区域内移动的物体导致所述多个光轴中的至少任一个光轴经常处于遮光状态的情况下,当处于遮光状态的光轴的数量大于预先设定的最大光轴数量时,所述检测处理部输出所述检测信号,当所述处于遮光状态的光轴的数量小于预先设定的最小光轴数量时,所述检测处理部也输出所述检测信号。
地址 日本京都府京都市