发明名称 一种变频器控制箱老化试验装置
摘要 本发明提供一种变频器控制箱老化试验装置,包括电压和电流老化模块是模拟变频器的电压传感器和电流传感器输出的交变电流信号波形,来老化电压和电流采集端口;光纤老化模块是模拟IGBT输出的光纤反馈信号和/或电机转速信号并采集控制IGBT动作的信号,对IGBT动作信号进行处理;判断波形是否与标准波形一致;温度老化模块是模拟温度采集端口采集到的温度升高,从而完成超温报警的老化过程;逻辑控制老化模块是模拟逻辑开关的动作信号的收发,判断动作是否执行。本发明的有益效果是:通过长时间的高温运行,对控制箱的各个部分以及电子元器件进行下线后的全方位老化试验,确保装到控制箱的质量;也不会对被老化控制箱造成破坏等优点。
申请公布号 CN103019231B 申请公布日期 2016.02.10
申请号 CN201210546527.5 申请日期 2012.12.14
申请人 天津瑞能电气有限公司 发明人 房凯龙;李瑞勤;贾恩平
分类号 G05B23/02(2006.01)I 主分类号 G05B23/02(2006.01)I
代理机构 天津滨海科纬知识产权代理有限公司 12211 代理人 孙春玲
主权项 一种变频器控制箱老化试验装置,其特征在于:包括光纤老化模块、电压和电流老化模块、温度老化模块、逻辑控制老化模块、信号源;——所述电压和电流老化模块是模拟变频器的电压传感器和电流传感器输出的交变电流信号波形,来老化被老化控制箱的电压和电流采集端口,通过电压传感器采集信号源电压值,得到交变电流信号,并将交变电流信号传给被老化控制箱信号采集板上的电压和电流信号采集端口,所述电压传感器与电压和电流信号采集端口之间串联可调电阻,通过调节可调电阻,来改变信号强度,模拟被老化控制箱不同阶段的电流值、过压值、以及过压、过流报警;——所述光纤老化模块是模拟IGBT输出的光纤反馈信号和/或电机转速信号,并且采集被老化控制箱输出的控制IGBT动作的信号,对采集到的IGBT动作的信号进行处理和分析;判断波形是否与控制箱工作时的标准波形一致,所述光纤老化模块包括微处理器、调理电路、老化光纤接收端和老化光纤发射端;微处理器发出PWM波形,经调理电路调理成为老化光纤信号,将老化光纤信号输出到被老化控制箱的光纤接收端,用来模拟被老化控制箱的IGBT反馈信号;再由老化接收端接收被老化控制箱的发射端的IGBT动作信号,并将接收到的IGBT动作信号传输给微处理器进行处理和分析,判断被老化控制箱控制IGBT动作信号是否符合标准;——所述温度老化模块是模拟被老化控制箱的温度采集端口采集到的温度升高,从而完成超温报警的老化过程;——所述逻辑控制老化模块是模拟逻辑控制单元的回路,模拟被老化控制箱的逻辑开关的动作信号的发出和接收,判断动作是否执行;——所述信号源是三相高压信号源。
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