| 摘要 |
Způsob stanovení emisivity lesklého povrchu spočívá v tom, že povrch vzorku (2) o neznámé emisivitě, do nějž je ze zadní strany zasunuto teplotní čidlo a který je alespoň na zadní straně opatřen tepelnou izolací (3, 4), se ozařuje zdrojem (5) tepelného záření, přičemž se na teplotním čidle zaznamenává nárůst teploty v závislosti na čase, načež se povrch vzorku opatří vrstvou o známé emisivitě a ozařuje stejným zdrojem (5) ve shodné konfiguraci a se shodnými počátečními teplotními podmínkami a na teplotním čidle se zaznamenává nárůst teploty na čase, poté se prostřednictvím vhodného softwaru v prvním kroku vytvoří výpočtový model odpovídající konfiguraci vzorku (2), k čemuž se použijí data z druhého měření, a provádí se korelace mezi naměřenými hodnotami a výpočtovým modelem až k vytvoření funkčního modelu, v němž jsou naměřený a vypočtený průběh teplot ve shodě, poté se ve druhém kroku na výpočtový model aplikují všechny okrajové podmínky zjištěné z předchozího výpočtu, přičemž se jako jediná neznámá zadá emisivita povrchu vzorku, takto připravený model se optimalizuje, přičemž jako známé parametry se použijí teploty získané z měření, přičemž se optimalizační algoritmus nechá probíhat do okamžiku minimální odchylky vypočtených a změřených dat a v něm se odečte hledaná hodnota emisivity. |
