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发明名称 Ｘ線検査装置
摘要
申请公布号 JP5855530(B2) 申请公布日期 2016.02.09
申请号 JP20120124726 申请日期 2012.05.31
申请人 アンリツインフィビス株式会社 发明人 三谷 聡
分类号 H05G1/26;G01N23/04;H05G1/34 主分类号 H05G1/26
代理机构 代理人
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