发明名称 ドーズおよびフォーカス決定方法、検査装置、パターニングデバイス、基板、ならびにデバイス製造方法
摘要 【課題】基板上のリソグラフィプロセスにおいて使用されるリソグラフィ装置の露光ドーズを決定する方法を提供する。【解決手段】基板上におけるリソグラフィ装置の露光ドーズに依存する形状のドーズ感度を有するフィーチャを持つ第1構造を、リソグラフィプロセスを使用して基板上に作成する。リソグラフィ装置の露光ドーズに依存する形状を有するが、露光ドーズに対する感度が第1構造と異なる、ドーズ感度を有するフィーチャを持つ第2構造を、リソグラフィプロセスを使用して基板上に作成する。第1および第2構造を放射で照明しながら散乱放射を検出して第1および第2スキャトロメータ信号を取得する。第1および第2スキャトロメータ信号を使用して、第1および第2構造のうちの少なくとも一方を作成するために使用される露光ドーズ値を決定する。【選択図】図2
申请公布号 JP2016503520(A) 申请公布日期 2016.02.04
申请号 JP20150544421 申请日期 2013.11.22
申请人 エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. 发明人 ヴァノッペン,ペーター;ブラウワー,エリック;クラメル,フーゴ;デン ベステン,ヤン;エンゲレン,アドリアヌス;ヒンネン,パウル
分类号 G03F7/20 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人
主权项
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