| 摘要 |
基準撮像条件における撮像素子（１１０）の光電変換特性を分類し、分類番号を分類番号メモリ（１２１）に記憶する。分類番号ｉの画素の光電変換特性を平均し、基準撮像条件での分類番号ｉの代表特性とし、分類番号ｉの代表特性を所定の出力特性に変換するＬＵＴを特性変換ＬＵＴ（１２５）に記憶する。非基準撮像条件における光電変換特性について分類番号ｉ毎に平均し、非基準撮像条件での分類番号ｉの代表特性とする。非基準撮像条件での分類番号ｉの代表特性のＬＵＴを特性変換ＬＵＴ（１２５）に記憶する。非基準撮像条件での画素ｊの光電変換特性と非基準撮像条件での各代表特性とを比較し、画素ｊの光電変換特性に最も近い代表特性の分類番号と画素ｊの分類番号との差分を撮像条件Ｂにおける画素ｊの分類番号補正値として分類番号補正値メモリ（１２２）に記憶する。 |
