パワーモジュールの劣化検知装置

摘要

半導体チップ（１００）を内蔵したパワーモジュールの劣化を検知する装置であって、半導体チップ（１００）の温度を検出して得られる温度信号（Ｓ１）に含まれる交流信号と半導体チップ（１００）の電力損失を検出して得られる電力損失信号（Ｓ３）に含まれる交流成分との間の伝達特性に基づいて劣化検知処理を行う劣化検知処理部（１０）を備え、他の発熱源の温度干渉の影響を排除して確実にパワーモジュールの劣化度を検知する。