发明名称 Ladestation zum Umladen von gefrorenen Proben bei tiefen Temperaturen
摘要 Die Erfindung betrifft eine Ladestation (100, 200) zum Umladen einer gefrorenen Probe für die Elektronenmikroskopie umfassend eine nach oben hin offene Kammer (104, 204), die zumindest teilweise mit einem Kühlmittel befüllbar ist, wobei die Kammer (104, 204) in ihrer Seitenwand zumindest zwei Anschlüsse (101a, 102a, 103a) für jeweils unterschiedliche Probentransfereinrichtungen (101, 102, 103) aufweist, wobei die Anschlüsse (101a, 102a, 103a) ein Einbringen einer gefrorenen Probe in die Kammer (104, 204) über eine ausgewählte Probentransfereinrichtung und ein Ausbringen einer gefrorenen Probe aus der Kammer über eine jeweils andere Probentransfereinrichtung gestatten, und dass in der Kammer (104, 204) eine Aufnahme (108, 208) für zumindest zwei unterschiedlich ausgebildete Probenhalter (109, 110) angeordnet ist, wobei die zumindest zwei Probenhalter (109, 110) zum Einbringen der gefrorenen Probe in die Kammer (104, 204) und zum Ausbringen der gefrorenen Probe aus der Kammer (104, 204) an zumindest einer der Probentransfereinrichtungen (101) lösbar befestigbar sind.
申请公布号 DE102014110722(A1) 申请公布日期 2016.02.04
申请号 DE201410110722 申请日期 2014.07.29
申请人 LEICA MIKROSYSTEME GMBH 发明人 GÄCHTER, LEANDER;LIHL, REINHARD
分类号 G01N1/42;B01L7/00;G01N1/36;H01J37/20 主分类号 G01N1/42
代理机构 代理人
主权项
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