发明名称 一种激光束偏移测量方法
摘要 一种激光束偏移测量装置,包括:一测量标记;一CCD摄像机;一图像采集和处理单元;其中,测量光束照射所述测量标记,所述CCD摄像机拍摄所述测量光束所成的图像,经所述图像采集和处理单元得到光束相对于所述测量标记的偏移。本发明的激光束偏移测量方法,实现简单,操作简易,可直接给出测量结果。
申请公布号 CN102692187B 申请公布日期 2016.02.03
申请号 CN201110068068.X 申请日期 2011.03.21
申请人 上海微电子装备有限公司;上海微高精密机械工程有限公司 发明人 戈亚萍;徐荣伟;李运锋
分类号 G01B11/02(2006.01)I 主分类号 G01B11/02(2006.01)I
代理机构 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 代理人 王光辉
主权项  一种激光束偏移测量方法,包括一测量标记,用于测量激光束的偏移,所述测量标记包括一透明基底;所述透明基底上镀有金属透射层;所述金属透射层与以测量标记中心为圆心、激光束的束腰半径为半径的圆相内切,所述以测量标记中心为圆心、激光束的束腰半径为半径的圆内切于所述金属透射层,所述激光束偏移测量方法包括如下步骤:第一步:用平行光照射测量标记,再由CCD摄像机拍摄测量标记所成图像,经图像采集和处理单元处理图像,得到测量标记中心相对于CCD摄像机中心的偏移关系;第二步:用要测量激光束照射测量标记,再由CCD摄像机拍摄图像,经图像采集和处理单元处理图像,得到激光束相对于CCD摄像机中心的偏移关系,其中,与测量标记相交的激光束在束腰处;第三步:根据第一步和第二步的偏移关系,得到激光束相对于测量标记的偏移关系。
地址 201203 上海市浦东区张江高科技园区张东路1525号