发明名称 | 一种磁显微成像方法及装置 | ||
摘要 | 本发明涉及一种磁显微成像方法及装置。常规的原子磁显微利用连续激光抽运、检测,磁场灵敏度高,广泛应用于各类高精度磁场测量领域。基于连续激光测量的原子磁显微仪的空间分辨率在毫米量级,而科学研究和生产生活中很多地方需要测量微米量级的磁场空间分布信息,即需要使用微米量级的磁显微仪。本发明利用高功率脉冲激光对原子进行抽运,再用低功率脉冲激光检测原子极化率,缩短了检测时间,部分消除了扩散对空间分辨率的影响。 | ||
申请公布号 | CN105301526A | 申请公布日期 | 2016.02.03 |
申请号 | CN201510761109.1 | 申请日期 | 2015.11.10 |
申请人 | 北京航空航天大学 | 发明人 | 董海峰;胡旭阳;黄海超;陈林;高阳 |
分类号 | G01R33/022(2006.01)I | 主分类号 | G01R33/022(2006.01)I |
代理机构 | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人 | 成金玉;孟卜娟 |
主权项 | 一种磁显微成像方法,其特征在于:待测磁场沿y轴方向记为B<sub>y</sub>(y,z),该磁场在y‑z平面内分布不均,有两束脉冲激光同时作用在碱金属原子气室(3)上,沿z轴方向有一束抽运光,沿x轴方向有一束检测光,极化的原子在主磁场作用下发生进动,对线偏振光存在旋光效应,通过偏振分光棱镜(10)后,两个图像采集器探测z轴和x轴方向,得到两个光强均会发生变化,调节两个图像采集器的位置并利用图像变形算法对齐这两个光强分布图,再进行差分计算得出旋光角的空间分布,进而计算出磁场空间分布B<sub>y</sub>(y,z)。 | ||
地址 | 100191 北京市海淀区学院路37号 |