发明名称 一种超导线圈缺陷位置检测系统
摘要 本发明公开一种超导线圈缺陷位置检测系统,包括:磁路、多自由度移动平台、检测装置、励磁线圈及电源,磁路开设有磁路窗口,所述磁路窗口之间设置有待测超导线圈,电源与所述励磁线圈相连,所述励磁线圈缠绕在所述磁路上,磁路固定在所述多自由度移动平台上,检测装置设置在待测超导线圈的一个表面上;磁路窗口,用于沿着所述待测超导线圈的绕组径向励磁;多自由度移动平台,用于调节磁路窗口与所述待测超导线圈之间的位置;检测装置,用于检测所述待测超导线圈表面的磁场或温度,以根据所述待测超导线圈表面的磁场或温度的变化,判断所述待测超导线圈是否存在缺陷以及缺陷的位置,实现了超导线圈缺陷位置的检测。
申请公布号 CN105301093A 申请公布日期 2016.02.03
申请号 CN201510689099.5 申请日期 2015.10.21
申请人 北京原力辰超导技术有限公司 发明人 高琦
分类号 G01N27/82(2006.01)I 主分类号 G01N27/82(2006.01)I
代理机构 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人 李相雨
主权项 一种超导线圈缺陷位置检测系统,其特征在于,包括:磁路、多自由度移动平台、检测装置、励磁线圈及电源,所述磁路开设有磁路窗口,所述磁路窗口之间设置有待测超导线圈,所述电源与所述励磁线圈相连,所述励磁线圈缠绕在所述磁路上,所述磁路固定在所述多自由度移动平台上,所述检测装置设置在所述待测超导线圈的一个表面上;所述磁路窗口,用于沿着所述待测超导线圈的绕组径向励磁;所述多自由度移动平台,用于调节所述磁路窗口与所述待测超导线圈之间的位置;所述检测装置,用于检测所述待测超导线圈表面的磁场或温度,以根据所述待测超导线圈表面的磁场或温度的变化,判断所述待测超导线圈是否存在缺陷以及缺陷的位置。
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