发明名称 |
IGZO溅射靶和IGZO膜 |
摘要 |
一种溅射靶,其为包含铟(In)、镓(Ga)、锌(Zn)和氧(O)的IGZO烧结体溅射靶,其特征在于,In、Ga、Zn为0.575≥In/(In+Ga)≥0.500、且Zn/(In+Ga+Zn)<0.333的组成范围,该溅射靶具有由(In<sub>x</sub>Ga<sub>(1-x)</sub>)<sub>2</sub>ZnO<sub>4</sub>(1>x>0)相构成的单一相组织、或者具有由(In<sub>x</sub>Ga<sub>(1-x)</sub>)<sub>2</sub>ZnO<sub>4</sub>(1>x>0)相和In<sub>2</sub>O<sub>3</sub>相构成的双相结构的组织,该In<sub>2</sub>O<sub>3</sub>相的最大直径为10μm以下。本发明提供实现降低溅射用靶的体电阻以及载流子浓度为一定范围以下、并且实现提高靶的密度、将电弧放电的产生抑制到最小限度、能够进行DC溅射的IGZO靶技术。 |
申请公布号 |
CN105308208A |
申请公布日期 |
2016.02.03 |
申请号 |
CN201480002040.8 |
申请日期 |
2014.03.11 |
申请人 |
吉坤日矿日石金属株式会社 |
发明人 |
长田幸三;角田浩二;栗原敏也 |
分类号 |
C23C14/34(2006.01)I;C04B35/00(2006.01)I |
主分类号 |
C23C14/34(2006.01)I |
代理机构 |
中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 |
代理人 |
王海川;穆德骏 |
主权项 |
一种溅射靶,其为包含铟(In)、镓(Ga)、锌(Zn)和氧(O)的IGZO烧结体溅射靶,其特征在于,In、Ga、Zn为0.575≥In/(In+Ga)≥0.500、且Zn/(In+Ga+Zn)<0.333的组成范围,该溅射靶具有由(In<sub>x</sub>Ga<sub>(1‑x)</sub>)<sub>2</sub>ZnO<sub>4</sub>(1>x>0)相构成的单一相组织。 |
地址 |
日本东京 |