发明名称 | 一种便于BGA芯片电源测试治具和方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种便于BGA芯片电源测试的测试治具,所述测试治具结构包括:最下层的治具BGA Pad部分,其上依次为地层、电源层、地层,和设置于治具体的用于连接电源或者地部分的固定装置,其中治具BGA Pad部分的结构与BGA芯片背面相同,固定装置的结构包括镂空部分和紧固螺丝,镂空部分为连接负载线缆的导线孔,紧固螺丝负责将负载线缆固定在导线孔内,以形成连接。本发明通过合理的治具设计及使用,实现了与BGA芯片一致的拉载模拟,解决电路板开关电源测试测试过程中无法在实际BGA负载端测试的问题,开关电源测试结果更精确,更符合实际情况,运用此项测试后的开关电源更加稳定,电路板设计稳定性也大为提高。 | ||
申请公布号 | CN105301516A | 申请公布日期 | 2016.02.03 |
申请号 | CN201510613557.7 | 申请日期 | 2015.09.24 |
申请人 | 浪潮电子信息产业股份有限公司 | 发明人 | 李德恒 |
分类号 | G01R31/40(2014.01)I | 主分类号 | G01R31/40(2014.01)I |
代理机构 | 济南信达专利事务所有限公司 37100 | 代理人 | 张靖 |
主权项 | 一种便于BGA芯片电源测试的测试治具,其特征在于,所述测试治具结构包括:最下层的治具BGA Pad部分(1),其上依次为地层(3)、电源层(2)、地层(3),和设置于治具体的用于连接电源或者地部分的固定装置(4),其中治具BGA Pad部分(1)的结构与BGA芯片背面相同,固定装置(4)的结构包括镂空部分和紧固螺丝,镂空部分为连接负载线缆的导线孔,紧固螺丝负责将负载线缆固定在导线孔内,以形成连接。 | ||
地址 | 250101 山东省济南市高新区浪潮路1036号 |