发明名称 |
电子设备的待机耗电测试方法、装置及电子设备 |
摘要 |
本发明公开了一种电子设备的待机耗电测试方法、装置及电子设备,其中,电子设备的待机耗电测试方法包括:获取应用程序的流行广度信息和应用程序的运行频率信息;根据应用程序的流行广度信息和应用程序的运行频率信息构建待测试电子设备的应用程序列表;将应用程序列表中的应用程序安装至待测试电子设备;在待测试电子设备中运行应用程序列表中的应用程序,并将待测试电子设备切换至待机状态;以及在预设时间之后,获取电子设备的耗电信息。本发明实施例的电子设备的待机耗电测试方法、装置及电子设备,排除了外界环境的干扰,从而使测试的结果更加准确、可靠。 |
申请公布号 |
CN105302684A |
申请公布日期 |
2016.02.03 |
申请号 |
CN201510781798.2 |
申请日期 |
2015.11.13 |
申请人 |
北京金山安全软件有限公司 |
发明人 |
戴龙飞 |
分类号 |
G06F11/26(2006.01)I |
主分类号 |
G06F11/26(2006.01)I |
代理机构 |
北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 |
代理人 |
张大威 |
主权项 |
一种电子设备的待机耗电测试方法,其特征在于,包括以下步骤:获取应用程序的流行广度信息和应用程序的运行频率信息;根据所述应用程序的流行广度信息和所述应用程序的运行频率信息构建待测试电子设备的应用程序列表;将所述应用程序列表中的应用程序安装至所述待测试电子设备;在所述待测试电子设备中运行所述应用程序列表中的应用程序,并将所述待测试电子设备切换至待机状态;以及在预设时间之后,获取所述电子设备的耗电信息。 |
地址 |
100085 北京市海淀区小营西路33号二层东区 |