| 发明名称 | 基于光子计数技术的全日盲紫外成像定量化检测方法 | ||
| 摘要 | 一种基于定量化光子计数技术的全日盲紫外成像检测方法，包括采用如下公式求得紫外光子计数当量值的步骤：Σ<sub>5.5</sub>＝0.33d<sup>2</sup>Σexp(0.4125-0.075d)*v*m*[1+(0.95-h)/0.95](1)；光子计数时全日盲紫外检测仪增益设置值固定在量程的60％处；光子计数时在特定的区域对象中进行，且仅对单个放电位置进行计数，计数区域涵盖全部连续点，并涵盖90％以上瑞利散射引起的游离点。本发明利用全日盲紫外成像仪对电晕放电的探测，通过紫外成像仪中的紫外线和可见光双通道融合图像获取高压带电设备电晕放电的具体位置，然后通过对电晕放电位置处的紫外光子计数来对电晕放电进行定量化分析，并对测试距离、环境湿度、电压等级等影响因素进行修正，得出了优于现有标准的紫外光子检测校正公式。 | ||
| 申请公布号 | CN105301542A | 申请公布日期 | 2016.02.03 |
| 申请号 | CN201510783885.1 | 申请日期 | 2015.11.13 |
| 申请人 | 广东电网有限责任公司电力科学研究院 | 发明人 | 王锐;陈聚文;彭向阳;林茂;余欣;张显;王柯;麦晓明;易琳;黄振;钱金菊 |
| 分类号 | G01R35/00(2006.01)I;G01R31/12(2006.01)I | 主分类号 | G01R35/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 广州知友专利商标代理有限公司 44104 | 代理人 | 周克佑 |
| 主权项 | 一种基于定量化光子计数技术的全日盲紫外成像检测方法，其特征是：包括采用如下公式求得紫外光子计数当量值的步骤：Σ<sub>5.5</sub>＝0.33d<sup>2</sup>Σexp(0.4125‑0.075d)*v*m*[1+(0.95‑h)/0.95] (1)；Σ<sub>5.5</sub>：为换算到5.5m标准距离时的紫外光子计数值，简称为紫外光子计数当量值；d：为实际测试距离，m；Σ：为在d测试距离时检测得到的紫外光子计数值；v：为电压等级修正系数，110kV以及以下电压等级取1，220kV及以上电压等级取0.5；m：为放电部位修正系数，放电部位为绝缘子护套和导线时系数取1，其他部位时系数取0.3；h：为测试环境湿度，％；光子计数时全日盲紫外检测仪增益设置值固定在量程的60％处；光子计数时在特定的区域对象中进行，且仅对单个放电位置进行计数，计数区域涵盖全部连续点，并涵盖90％以上瑞利散射引起的游离点。 | ||
| 地址 | 510080 广东省广州市越秀区东风东路水均岗8号 | ||