发明名称 |
产品外观的LOGO检测方法 |
摘要 |
本发明涉及产品外观的LOGO检测方法,包括如下步骤:对标准产品工件建立模板轮廓特征并处理得到第一LOGO区域;对待检测产品工件建立轮廓特征得到第二LOGO区域;判断模板轮廓特征和轮廓特征的相似度是否达到预设值且满足目标个数,若是,根据第一LOGO区域和第二LOGO区域处理得到差异区域,并获取差异区域中所有像素点的总数,以及获取该差异区域的最大内切圆的半径,当像素点的总数大于像素点预设值且最大内切圆的半径大于内径预设值时,则待检测产品工件LOGO外观合格,否则,待检测产品工件LOGO外观不合格。本发明无需人工对产品的LOGO外观进行对比检测,避免了人工检测所带来的误差,测量方法效率高,精度高。 |
申请公布号 |
CN105303565A |
申请公布日期 |
2016.02.03 |
申请号 |
CN201510646226.3 |
申请日期 |
2015.09.30 |
申请人 |
广州超音速自动化科技股份有限公司 |
发明人 |
张俊峰 |
分类号 |
G06T7/00(2006.01)I |
主分类号 |
G06T7/00(2006.01)I |
代理机构 |
广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 |
代理人 |
李天星 |
主权项 |
产品外观的LOGO检测方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤一:对标准产品工件建立模板轮廓特征;步骤二:根据模板轮廓特征进行二值化处理得到第一LOGO区域;步骤三:对待检测产品工件建立轮廓特征;步骤四:根据轮廓特征进行二值化处理得到第二LOGO区域;步骤五:判断标准产品工件的模板轮廓特征和待检测产品工件的轮廓特征的相似度是否达到预设值且满足目标个数,若是,则执行步骤六,否则,认定待检测产品工件LOGO外观不合格;步骤六:根据第一LOGO区域和第二LOGO区域处理得到差异区域,并获取差异区域中所有像素点的总数,以及获取该差异区域的最大内切圆的半径,当像素点的总数大于像素点预设值且最大内切圆的半径大于内径预设值时,则待检测产品工件LOGO外观合格,否则,认定待检测产品工件LOGO外观不合格。 |
地址 |
510000 广东省广州市番禺区石基镇金山村华创动漫产业园B10栋 |