发明名称 微粒子検出装置の評価システム及び微粒子検出装置の評価方法
摘要 A particle detecting device evaluating system having a test chamber provided, in one face thereof, with a plurality of gas intake vents, where respective particle detecting devices are provided; an injecting device for injecting particles into the test chamber; a light sheet forming device for forming a light sheet within the test chamber; and an imaging device for imaging particles made visible by the light sheet.
申请公布号 JP5852834(B2) 申请公布日期 2016.02.03
申请号 JP20110220084 申请日期 2011.10.04
申请人 アズビル株式会社 发明人 山▲崎▼ 信介
分类号 G01N15/06;G01N15/00 主分类号 G01N15/06
代理机构 代理人
主权项
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