发明名称 用于真空卷绕镀膜设备上的膜层电阻在线检测装置
摘要 本发明提供了一种用于真空卷绕镀膜设备上的膜层电阻在线检测装置,包括:接触铜辊、压接引线装置、穿舱密封接插件(6)、电阻测量仪(7),其中,所述接触铜辊与压接引线装置相连,接触铜辊用于测量膜层的电阻值,并依次通过压接引线装置、穿舱密封接插件(6)将测得的膜层电阻值传输至电阻测量仪(7),所述电阻测量仪(7)能够对膜层的电阻值进行实时在线监测。本发明中的装置能够实时在线检测真空卷绕镀膜设备上的膜层电阻,并且能够直接在设备上安装使用,组装方法简单,测量精度好。
申请公布号 CN105301358A 申请公布日期 2016.02.03
申请号 CN201510764294.X 申请日期 2015.11.09
申请人 上海卫星装备研究所 发明人 李灿伦;景加荣;黄涛;范秋林;倪俊
分类号 G01R27/02(2006.01)I;G01B7/06(2006.01)I 主分类号 G01R27/02(2006.01)I
代理机构 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人 郭国中
主权项 一种用于真空卷绕镀膜设备上的膜层电阻在线检测装置,其特征在于,包括:接触铜辊、压接引线装置、穿舱密封接插件(6)、电阻测量仪(7),其中,所述接触铜辊与压接引线装置相连,接触铜辊用于测量膜层的电阻值,并依次通过压接引线装置、穿舱密封接插件(6)将测得的膜层电阻值传输至电阻测量仪(7),所述电阻测量仪(7)能够对膜层的电阻值进行实时在线监测。
地址 200240 上海市闵行区华宁路251号