发明名称 检测开关构造和具有该检测开关构造的连接器
摘要 本发明提供了检测开关构造和具有该检测开关构造的连接器,该检测开关构造在接触时不需要摩擦,能够小型化,并且,获得大的赫兹应力,接触可靠性高。检测开关构造(40)由相互接触的金属制的固定接触件(50)和金属制的可动接触件(60)构成。当被检测体(C)卡合于可动接触件(60)时,驱动可动接触件(60)而解除可动接触件(60)和固定接触件(50)的接触状态。固定接触件(50)和可动接触件(60)的接触,通过固定接触件(50)的角部(53)和可动接触件(60)的一面(62a)或者固定接触件(50)的一面和可动接触件(60)的角部相接触而达成。连接器(1)具有检测开关构造(40)。
申请公布号 CN102709756B 申请公布日期 2016.02.03
申请号 CN201110463078.3 申请日期 2011.12.14
申请人 泰科电子日本合同会社;泰科电子荷兰公司 发明人 辻淳也;渡边树;M·里迈杰
分类号 H01R13/66(2006.01)I;H01R13/703(2006.01)I;G06K7/00(2006.01)I 主分类号 H01R13/66(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 严志军;杨楷
主权项  一种检测开关构造,由相互接触的金属制的固定接触件和金属制的可动接触件构成,当被检测体卡合于所述可动接触件时,驱动所述可动接触件而解除所述可动接触件和所述固定接触件的接触状态,其中,所述固定接触件通过对金属板进行冲裁和弯曲加工而形成,所述固定接触件和所述可动接触件的接触,通过形成于冲裁金属板后的剪断面的角的所述固定接触件的角部和所述可动接触件的一面接触而达成。
地址 日本神奈川县川崎市