发明名称 |
硅片背面清洗装置 |
摘要 |
本发明公开了一种硅片背面清洗装置,可以从硅片的背面清洗和干燥硅片,而且可以在同一操作中同时实施对不同尺寸的硅片的清洗和干燥。其技术方案为:硅片背面清洗装置包括:圆环形喷头支架,位于放置了硅片的基板承载盘的外围;多个清洗喷头,对硅片背面进行清洗,分布于圆环形喷头支架的上方和下方,分为两组,其中一组安装在圆环形喷头支架的外圈,另一组安装在圆环形喷头支架的内圈;多个气体喷头,对清洗后的硅片背面进行干燥处理,分为两组,其中一组安装在圆环形喷头支架的外圈,另一组安装在圆环形喷头支架的内圈。 |
申请公布号 |
CN105304522A |
申请公布日期 |
2016.02.03 |
申请号 |
CN201410366363.7 |
申请日期 |
2014.07.29 |
申请人 |
盛美半导体设备(上海)有限公司 |
发明人 |
吴均;王家毅;金一诺;王坚;王晖 |
分类号 |
H01L21/67(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/67(2006.01)I |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 31100 |
代理人 |
施浩 |
主权项 |
一种硅片背面清洗装置,其特征在于,包括:圆环形喷头支架,位于放置了硅片的基板承载盘的外围;多个清洗喷头,对硅片背面进行清洗,分布于圆环形喷头支架的上方和下方,分为两组,其中一组安装在圆环形喷头支架的外圈,另一组安装在圆环形喷头支架的内圈;多个气体喷头,对清洗后的硅片背面进行干燥处理,分为两组,其中一组安装在圆环形喷头支架的外圈,另一组安装在圆环形喷头支架的内圈。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区蔡伦路1690号第4幢 |