主权项 |
激光参数测量中光导型探测器的光热效应修正方法,其特征在于,包括以下步骤:[1]测量光导型探测器暗电阻和响应率随温度的变化数据,进行曲线拟合分别得到暗电阻和响应率随温度变化的函数R<sub>D</sub>(T)和R<sub>V</sub>(T);[2]对激光作用前后及激光辐照过程中的探测器输出信号在时间域进行离散采样,第n次采样所得的探测器输出信号为V(n),其中辐照持续期间的采样点序号为1~N,N为正整数,辐照结束后第一个采样点序号为N+1,辐照开始前一个采样点序号为0;[3]辐照结束后第一个采样信号V(N+1)减去辐照前的信号V(0)得到出光结束后的热残留信号V<sub>res</sub>;[4]分别计算不同采样时刻的基线漂移信号,其中第n次采样时的基线漂移量为<maths num="0001" id="cmaths0001"><math><![CDATA[<mrow><msub><mi>V</mi><mrow><mi>r</mi><mi>e</mi><mi>s</mi><mo>,</mo><mi>n</mi></mrow></msub><mo>=</mo><msub><mi>V</mi><mrow><mi>r</mi><mi>e</mi><mi>s</mi></mrow></msub><munderover><mo>Σ</mo><mrow><mi>i</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>n</mi></munderover><mo>[</mo><mi>V</mi><mrow><mo>(</mo><mi>i</mi><mo>)</mo></mrow><mo>-</mo><mi>V</mi><mrow><mo>(</mo><mn>0</mn><mo>)</mo></mrow><mo>]</mo><mo>/</mo><munderover><mo>Σ</mo><mrow><mi>i</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>N</mi></munderover><mo>[</mo><mi>V</mi><mrow><mo>(</mo><mi>i</mi><mo>)</mo></mrow><mo>-</mo><mi>V</mi><mrow><mo>(</mo><mn>0</mn><mo>)</mo></mrow><mo>]</mo><mo>,</mo></mrow>]]></math><img file="FDA0000800400280000011.GIF" wi="918" he="146" /></maths>其中0<n<N+1;[5]分别计算不同采样时刻光敏元的工作温度,其中第n次采样时刻的工作温度计算步骤为:[5.1]由公式R<sub>D,n</sub>(T<sub>n</sub>)=[V(0)+V<sub>res,n</sub>]/I<sub>B</sub>,计算得到第n次采样时刻的探测器暗电阻R<sub>D,n</sub>(T<sub>n</sub>),式中I<sub>B</sub>为检测电路加载在探测器上的偏置电流;[5.2]根据步骤[1]中暗电阻随温度变化函数R<sub>D</sub>(T)和[5.1]中的R<sub>D,n</sub>(T<sub>n</sub>),反演求解得到该采样时刻的探测器工作温度T<sub>n</sub>;[6]分别计算不同采样时刻的电压响应率,其中第n次采样时刻的电压响应率R<sub>V</sub>(T<sub>n</sub>)的计算步骤为:将探测器工作温度T<sub>n</sub>代入步骤[1]中响应率随温度变化函数R<sub>V</sub>(T)中计算而得;[7]分别计算不同时刻的待测激光功率,其中第n次采样时刻的激光功率为P<sub>n</sub>=[V(n)‑V<sub>res,n</sub>]/R<sub>V</sub>(T<sub>n</sub>)。 |