发明名称 |
一种CMOS图像传感器的结构及其制备方法 |
摘要 |
本发明涉及半导体良率提升领域,尤其涉及一种CMOS图像传感器的结构及其制备方法,利用光的干涉原理,通过在制作过程中控制薄膜厚度的方法,使得反射光的损失减少,进而使得透射光的强度增加,对提高产品良率会产生很大的帮助。 |
申请公布号 |
CN105304664A |
申请公布日期 |
2016.02.03 |
申请号 |
CN201510719251.X |
申请日期 |
2015.10.29 |
申请人 |
上海华力微电子有限公司 |
发明人 |
张武志 |
分类号 |
H01L27/146(2006.01)I |
主分类号 |
H01L27/146(2006.01)I |
代理机构 |
上海申新律师事务所 31272 |
代理人 |
俞涤炯 |
主权项 |
一种CMOS图像传感器的结构,其特征在于,所述结构包括:光电二极管区域;接触刻蚀阻挡层,形成于所述光电二极管区域上方;硅化物掩膜,形成于所述接触刻蚀阻挡层上方;至少两个介质层,形成于所述硅化物掩膜上方;至少一个介质隔层,形成于所述介质层之间;光通道深槽,通过刻蚀所述介质层与所述介质隔层得到;保护层薄膜,形成于深槽刻蚀后的整个产品上表面。 |
地址 |
201203 上海市浦东新区张江高科技园区高斯路568号 |