发明名称 |
间隙填充方法 |
摘要 |
间隙填充方法。提供了一种间隙填充方法,所述方法包括:(a)提供半导体衬底,该半导体衬底具有在所述衬底的表面上的浮雕图像,该浮雕图像包括多个待填充间隙;(b)将间隙填充组合物涂覆到该浮雕图像上,其中该间隙填充组合物包含未交联的可交联聚合物、酸催化剂、交联剂和溶剂,其中所述可交联聚合物包括以下通式(I)的第一单元以及以下通式(II)的第二单元;(c)加热该间隙填充组合物到使聚合物交联的温度。<img file="DSA0000114368250000011.GIF" wi="540" he="646" /> |
申请公布号 |
CN105304550A |
申请公布日期 |
2016.02.03 |
申请号 |
CN201410858450.4 |
申请日期 |
2014.12.23 |
申请人 |
罗门哈斯电子材料有限公司;陶氏环球技术有限公司;罗门哈斯电子材料韩国有限公司 |
发明人 |
沈载桓;朴琎洪;林载峰;赵廷奎;徐承柏;朴钟根;李明琦;P·D·胡斯塔德 |
分类号 |
H01L21/762(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/762(2006.01)I |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 31100 |
代理人 |
陈哲锋 |
主权项 |
一种间隙填充方法,所述方法包括:(a)提供半导体衬底,该半导体衬底具有在所述衬底的表面上的浮雕图像,该浮雕图像包括多个待填充间隙;(b)将间隙填充组合物涂覆到该浮雕图像上,其中该间隙填充组合物包含未交联的可交联聚合物、酸催化剂、交联剂和溶剂,其中所述可交联聚合物包括以下通式(I)的第一单元:<img file="FSA0000114368270000011.GIF" wi="449" he="228" />其中:R<sub>1</sub>选自氢、氟、C<sub>1</sub>‑C<sub>3</sub>烷基和C<sub>1</sub>‑C<sub>3</sub>氟烷基;以及Ar<sub>1</sub>是不含可交联基团例如羟基的任选取代的芳基;以及以下通式(II)的第二单元:<img file="FSA0000114368270000012.GIF" wi="537" he="299" />其中:R<sub>3</sub>选自氢、氟、C<sub>1</sub>‑C<sub>3</sub>烷基和C<sub>1</sub>‑C<sub>3</sub>氟烷基;且R<sub>4</sub>选自任选取代的C<sub>1</sub>‑C<sub>12</sub>线性、支链或环状烷基,以及任选取代的C<sub>6</sub>‑C<sub>15</sub>芳基,任选含有杂原子,其中至少一个氢原子被由独立地选自羟基、羧基、硫醇、胺、环氧基、烷氧基、酰胺和乙烯基的官能团取代;以及(c)加热该间隙填充组合物到使聚合物交联的温度。 |
地址 |
美国马萨诸塞州 |