发明名称 半导体元件和形成垂直结构的方法
摘要 一示范实施例,本发明提供一种形成一具有至少二阻障层之垂直结构的方法。该方法包括以下步骤:提供一基板;提供一基板上之垂直结构;提供一位于垂直结构之一源极、一通道、与一汲极上之第一阻障层;和提供一位于垂直结构之一闸极与一汲极上之第二阻障层。
申请公布号 TW201605040 申请公布日期 2016.02.01
申请号 TW104112171 申请日期 2015.04.16
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 彭治棠;黄泰钧;蔡腾群;林正堂;陈德芳;王立廷;王建勋;林焕哲;卢永诚;李资良
分类号 H01L29/66(2006.01);H01L29/78(2006.01) 主分类号 H01L29/66(2006.01)
代理机构 代理人 冯博生
主权项 一种形成一具有至少二阻障层之垂直结构的方法,包括:提供一基板;提供一位于该基板上方之垂直结构;提供一位于该垂直结构之一源极、一通道、与一汲极上方之第一阻障层;和提供一位于该垂直结构之一闸极与该汲极上方之第二阻障层。
地址 新竹市新竹科学工业园区力行六路8号