测试键的电路架构与测试键的测试方法

摘要

测试键的电路架构与一种测试键的测试方法。所述之电路架构包括有多个电晶体、一第一导电接点、多个第二导电接点与多个第三导电接点。上述电晶体系排列成一矩阵。第一导电接点系电性连接每行电晶体中之每一电晶体的其中一源/汲极。每一第二导电接点系电性连接对应一行电晶体中之每一电晶体的另一源/汲极。每一第三导电接点系电性连接对应一列电晶体中之每一电晶体的闸极。而在所述方法中，系依一预定顺序来提供多个驱动脉冲至上述之第三导电接点，且每开启一列电晶体就从上述之第二导电接点读取多个输出讯号，据以进行元件特性分析。

主权项

一种测试键的电路架构，包括：多个电晶体，排列成一矩阵；一第一导电接点，电性连接每行电晶体中之每一电晶体的其中一源/汲极；多个第二导电接点，每一第二导电接点电性连接对应一行电晶体中之每一电晶体的另一源/汲极；以及多个第三导电接点，每一第三导电接点电性连接对应一列电晶体中之每一电晶体的闸极；其中，该些电晶体用以在一测试程序中致能，该第一导电接点用以在该测试程序中接收一测试讯号并将所接收的测试讯号输入至该些电晶体的其中一源/汲极，且每一第二导电接点用以同步地接收从该些电晶体的另一源/汲极所对应产生的一输出讯号。