发明名称 用于检测试片之电极结构、其制造方法与其所组合成之检测试片
摘要 明之用于检测试片之电极结构,其包括一基板、一触发层、一第一金属层与一第二金属层。其中,触发层设置于该基板上,第一金属层设置于该触发层上,第二金属层设置于该第一金属层上,并且该触发层与该第一金属层系在该基板上形成一图案。本发明之电极结构系彼此紧密靠合,具有稳定及低阻抗之优点,故可大幅减少数据误判的发生,克服知技术的问题。
申请公布号 TW201604539 申请公布日期 2016.02.01
申请号 TW103125068 申请日期 2014.07.22
申请人 陈远达 发明人 陈远达
分类号 G01N27/30(2006.01);G01N27/327(2006.01) 主分类号 G01N27/30(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 一种用于检测试片之电极结构,其包括:一基板;一触发层,设置于该基板上;一第一金属层,设置于该触发层上;以及,一第二金属层,设置于该第一金属层上;其中该触发层与该第一金属层系在该基板上形成一图案。
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