发明名称 |
电子射线装置 |
摘要 |
明的目的系提供一种电子射线装置,其系将评估区域分割成复数个副视野,并将1次电子射线依序照射于副视野,且依各个副视野,利用检测手段将包含试料面之资讯的2次电子进行检测,从而得到评估区域的资讯之电子射线装置,其系即使使用图框数/sec小的区域感测器亦可得到高速的画像者。为此,电子射线装置之检测手段26系具备有复数个单元检测器24-1,其系由下述构件所构成:区域感测器CCD1至CCD14;其一端结合于区域感测器之检测面之光纤束25;以及形成有涂布在光纤束之另一端、且用以成像副视野的2次电子射线之闪烁体的FOP。藉由电磁偏向器,每当照射电子射线之副视野移动时,使来自该副视野之2次电子射线偏向,并使之移动于单元检测器之FOP面上。由于自各单元检测器,可于其他之单元检测器的曝光中可取出画像资讯,故可取得高速画像。
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申请公布号 |
TWI519779 |
申请公布日期 |
2016.02.01 |
申请号 |
TW103134994 |
申请日期 |
2006.02.17 |
申请人 |
荏原制作所股份有限公司 |
发明人 |
中筋护;野路伸治;佐竹彻;曾布川拓司 |
分类号 |
G01N23/00(2006.01);H01L21/66(2006.01) |
主分类号 |
G01N23/00(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
洪武雄;陈昭诚 |
主权项 |
一种电子射线装置,系使用复数个电子束检查试料表面者,系包括:复数个电子枪,分别产生电子束;复数个1次电子光学系统,系对应于复数个电子枪之各者而设置者,且将来自对应之电子枪之电子束引导至试料表面而进行照射;以及复数个2次电子光学系统,系分别对应于复数个1次电子光学系统而设置者,且将因为由对应之1次电子光学系统所照射之电子束而从试料放出之2次电子引导至对应之检测器;其中,复数个1次电子光学系统系包括构成为一体的构造之复数个物镜,该复数个物镜系包括:2个磁性体板,系于该等物镜共通地沿光轴方向隔着透镜间隙而重叠,且于复数个一次光学系统各自的光轴所对应之位置开设有孔;以及物镜激励用线圈,系配置于该磁性体板的周围部。
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地址 |
日本 |