| 摘要 |
第１電極１２と、第２電極１７と、第１電極１２および第２電極１７に挟まれた機能層１６および発光層１５と、を有する有機ＥＬ素子に対して行われる欠陥検出方法である。当該欠陥検出方法は、第１電極１２と第２電極１７間に発光層１５が非発光となる滅点を顕在化させるための電圧を印加することにより、有機ＥＬ素子が第１電極１２と第２電極１７との間に非発光を引き起こす要因となる欠陥部３を有する場合には、機能層１６の欠陥部３に対応する第１部分１６ｃにおける電気抵抗を低下させる滅点顕在化工程と、滅点顕在化工程の後に、第１電極１２と第２電極１７間に欠陥部３の無い正常な有機ＥＬ素子であれば発光層１５が発光するであろう電圧である発光所要電圧を印加して、滅点を検出する滅点検出工程とを有する。 |
