发明名称 应用重覆曝光之多曝光影像混和的检测方法
摘要 系揭露一种应用重覆曝光之多曝光影像混和的检测方法,包含:步骤S100:设定第一组态下之具不同波长段及照射角度此二者之至少其一之复数光源装置各别的曝光时间值;步骤S200:进行重覆曝光而依序使该等光源装置开启对应的曝光时间值后关闭,以使该等光源装置依序照射至一待测电路基板上并由一影像撷取装置产生该等曝光时间值内所混和的一检测影像;及步骤S300:输出该检测影像以供分析检查。藉此,本案于一幅检测影像中系纪录了在不同照射光线下所混和出的影像资讯,可免去各个光源装置各别的影像撷取,而在同一时间内获取多个影像,系可简化流程及有效缩短检测时间。
申请公布号 TW201604536 申请公布日期 2016.02.01
申请号 TW103125041 申请日期 2014.07.22
申请人 牧德科技股份有限公司 发明人 汪光夏;陈辉毓
分类号 G01N21/956(2006.01);G01R31/308(2006.01) 主分类号 G01N21/956(2006.01)
代理机构 代理人 赖安国;王立成
主权项 一种应用重覆曝光之多曝光影像混和的检测方法,包含: 步骤S100:设定第一组态下之具不同波长段及照射角度此二者之至少其一之复数光源装置各别的曝光时间值,该等曝光时间值系组成一总曝光时间; 步骤S200:进行重覆曝光而依序使该等光源装置开启对应的曝光时间值后关闭,以使该等光源装置依序照射至一待测电路基板上并由一影像撷取装置产生该等曝光时间值内由不同波长段及照射角度此二者之至少其一之光线所混和的一检测影像;及 步骤S300:输出该检测影像以供分析检查。
地址 新竹市新竹科学工业园区工业东二路2之3号