发明名称 |
粒子检测系统及其采用驱动方法 |
摘要 |
一实施例,粒子检测系统包括施加用于粒子检测之驱动电压至粒子检测晶片之一电压驱动电路;一电流电压转换电路,当驱动电压施加至粒子检测晶片时,转换从粒子检测晶片输出之电流讯号为电压讯号;一检测电路基于电压讯号检测样品液体是否注入至粒子检测晶片之检测区;以及一分析电路基于电压讯号分析在样品液体中的微粒。电压驱动电路基于检测电路之检测结果变化驱动电压。
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申请公布号 |
TW201604527 |
申请公布日期 |
2016.02.01 |
申请号 |
TW104107572 |
申请日期 |
2015.03.10 |
申请人 |
东芝股份有限公司 |
发明人 |
西垣亨彦;滨崎浩史;中村直文;小林贤太郎;三木弘子 |
分类号 |
G01N15/00(2006.01);G01N27/416(2006.01) |
主分类号 |
G01N15/00(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
林志刚 |
主权项 |
一种粒子检测系统,包含:电压驱动电路,其施加用于粒子检测之驱动电压至粒子检测晶片,该粒子检测晶片检测在样品液体中之微粒且输出该微粒之电流讯号指示;电流电压转换电路,其当该驱动电压施加至该粒子检测晶片时,转换从该粒子检测晶片输出之该电流讯号为电压讯号;检测电路,其基于该电压讯号检测该样品液体是否注入至该粒子检测晶片之检测区;以及分析电路,其基于该电压讯号分析在该样品液体中的该微粒;其中该电压驱动电路基于该检测电路之检测结果变化该驱动电压。
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地址 |
日本 |