发明名称 Zwischenverbindungsstruktur umfassend Metall-Rückseiten-Umverteilungsleitungen mit sehr kleinem Teilungsabstand kombiniert mit Durchkontaktierungen
摘要 Eine 3D-Zwischenverbindungsstruktur und ein Herstellungsverfahren sind beschrieben, in denen Metall-Umverteilungsschichten (RDLs) mit Silizium-Durchkontaktierungen (TSVs) integriert sind und unter Verwendung eines Verfahrensablaufs der „Durchkontaktierungs-Resist”-Art. Eine Siliziumnitrid- oder Siliziumcarbid-Passivierungsschicht kann zwischen der Rückseite des ausgedünnten Vorrichtungswafers und den RDLs bereitgestellt sein, um während des Verfahrensablaufs eine hermetische Barriere- und Polierstoppschicht bereitzustellen.
申请公布号 DE112013007038(T5) 申请公布日期 2016.01.28
申请号 DE20131107038T 申请日期 2013.06.29
申请人 INTEL CORPORATION 发明人 LEE, KEVIN J.;JEONG, JAMES Y.;CHANG, HSIAO-KANG;MUIRHEAD, JOHN;PURI, PUNEESH;PATEL, NITIN M.;TELANG, ADWAIT;KANG, JIHO
分类号 H01L21/768;H01L21/28;H01L23/48 主分类号 H01L21/768
代理机构 代理人
主权项
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