发明名称 |
Zwischenverbindungsstruktur umfassend Metall-Rückseiten-Umverteilungsleitungen mit sehr kleinem Teilungsabstand kombiniert mit Durchkontaktierungen |
摘要 |
Eine 3D-Zwischenverbindungsstruktur und ein Herstellungsverfahren sind beschrieben, in denen Metall-Umverteilungsschichten (RDLs) mit Silizium-Durchkontaktierungen (TSVs) integriert sind und unter Verwendung eines Verfahrensablaufs der „Durchkontaktierungs-Resist”-Art. Eine Siliziumnitrid- oder Siliziumcarbid-Passivierungsschicht kann zwischen der Rückseite des ausgedünnten Vorrichtungswafers und den RDLs bereitgestellt sein, um während des Verfahrensablaufs eine hermetische Barriere- und Polierstoppschicht bereitzustellen. |
申请公布号 |
DE112013007038(T5) |
申请公布日期 |
2016.01.28 |
申请号 |
DE20131107038T |
申请日期 |
2013.06.29 |
申请人 |
INTEL CORPORATION |
发明人 |
LEE, KEVIN J.;JEONG, JAMES Y.;CHANG, HSIAO-KANG;MUIRHEAD, JOHN;PURI, PUNEESH;PATEL, NITIN M.;TELANG, ADWAIT;KANG, JIHO |
分类号 |
H01L21/768;H01L21/28;H01L23/48 |
主分类号 |
H01L21/768 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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