发明名称 ガス処理方法
摘要 チャンバー内の載置台に表面にシリコン酸化膜が形成された被処理体を載置し、載置台の上方に載置台に載置された被処理体に対応するように設けられたシャワープレート(58)の複数のガス吐出孔(62,63)から載置台上の被処理体に反応ガスであるHFガスおよびNH3ガスを吐出して、これらと被処理体表面のシリコン酸化膜とを反応させる処理を行い、その後、この反応により生成した反応生成物を加熱して分解除去することによりエッチングするにあたり、シャワープレート(58)を被処理体に対応して複数の領域(58a,58b)に分け、複数の領域(58a,58b)のいずれか1以上の領域のガス吐出孔を塞いで、HFガスおよび/またはNH3ガスの分布を制御する。
申请公布号 JPWO2013183437(A1) 申请公布日期 2016.01.28
申请号 JP20140519908 申请日期 2013.05.21
申请人 東京エレクトロン株式会社 发明人 末正 智希
分类号 H01L21/302 主分类号 H01L21/302
代理机构 代理人
主权项
地址