一种L波段测试设备及测试方法

摘要

本发明提供一种L波段测试设备及测试方法，所述L波段测试设备包括：对联射频口；信号处理器；收发模块，分别与所述信号处理器以及所述对联射频口联接；其中，在所述对联射频口联接所述L波段设备后，所述收发模块对测试信号上变频，经过所述收发模块处理将生成的L波段射频测试信号发送至所述L波段设备，当所述收发模块接收到回送信号时，通过所述多路开关相应通道接收处理后，对所述回送信号进行下变频后生成基带信号，所述信号处理器通过处理解算所述基带信号，获得所述L波段设备的测试参数。本发明提供的上述L波段测试设备解决了现有技术中测试L波段设备的指标时，存在测试方法繁琐以及误差较大的技术问题。

主权项

一种L波段测试设备，其特征在于，包括：对联射频口，用于连接L波段设备；信号处理器；收发模块，分别与所述信号处理器以及所述对联射频口联接；其中，在所述对联射频口联接所述L波段设备后，控制所述信号处理器产生测试信号、本振控制、多路开关通道选择信号并处理所述L波段设备发射的回送信号，所述收发模块基于所述本振控制对所述测试信号上变频后，生成的L波段射频信号经所述收发模块中收发处理子模块处理后，通过多路开关选择后将生成的L波段射频测试信号发送至所述L波段设备，当所述收发模块接收到所述L波段设备发射回送信号时，通过所述多路开关相应通道接收处理后，基于所述本振控制，对所述回送信号进行下变频后生成基带信号，所述信号处理器通过处理解算所述基带信号，获得所述L波段设备的测试参数。