发明名称 一种用于键盘按键测试的电测测试头
摘要 本发明公开了一种用于键盘按键测试的电测测试头,包括垂直方向分布的固定架,依次设置在固定架上的第一伸缩节和第二伸缩节,分别安装在第一伸缩节和第二伸缩节上的固定环和限位环,以及安装在固定环上的测试头组件;测试头组件自上而下包括搭接式相连的电磁铁和砝码;电磁铁固定于固定环,顶端为自由端、用于与测试导线相连,底端套穿入砝码的顶端并锁紧有垫片;砝码套装入限位环,顶端套接于电磁铁底端、并悬挂搭接于垫片,底端为自由端、作用于待测试键盘中的按键;砝码在作用于按键而向上受力后可沿电磁铁的底端上移。结构紧凑、实用性强,自动化程度高,测试准确高效,且提供灵活平稳的精确调节,通用性强,适应于不同产品的键盘按键布局。
申请公布号 CN105277878A 申请公布日期 2016.01.27
申请号 CN201510701002.8 申请日期 2015.10.26
申请人 昆山鸿志犀自动化机电设备有限公司 发明人 谭志辉
分类号 G01R31/327(2006.01)I 主分类号 G01R31/327(2006.01)I
代理机构 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人 董建林
主权项 一种用于键盘按键测试的电测测试头,其特征在于:包括垂直方向分布的固定架,依次设置在固定架上的第一伸缩节和第二伸缩节,分别安装在第一伸缩节和第二伸缩节上的固定环和限位环,以及安装在固定环上的测试头组件;所述第一伸缩节和第二伸缩节自上而下呈直线分布于固定架的侧端,所述测试头组件自上而下包括搭接式相连的电磁铁和砝码;所述电磁铁固定于固定环,电磁铁的顶端为自由端、用于与测试导线相连,电磁铁的底端套穿入砝码的顶端并锁紧有垫片;所述砝码套装入限位环,砝码的顶端套接于电磁铁底端、并悬挂搭接于垫片,砝码的底端为自由端、作用于待测试键盘中的按键;所述砝码在作用于按键而向上受力后可沿电磁铁的底端上移。
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