发明名称 一种光学元件化学湿法清洗后的干燥装置和工艺
摘要 本发明公开了一种光学元件化学湿法清洗后的干燥装置和工艺,该装置由干燥槽、鼓风机、空气加热器、空气高效过滤器和洁净气体屏蔽静电消除器等部分组成,通过加热高效过滤的超洁净循环空气,对湿法清洗后的光学元件进行干燥,利用洁净气体屏蔽静电消除器产生的离子消除元件表面静电,保持元件表面在干燥的过程中不吸附微粒,有效避免干燥过程中的二次污染,克服了以往装置的不足。基于此装置,开发了一套完整的光学元件清洗后的干燥工艺,经试验证明,该基于此装置的干燥工艺干燥效果好,有效防止了表面残留液体自行干燥的印迹,能够实现光学元件的超洁净清洗干燥。
申请公布号 CN105276934A 申请公布日期 2016.01.27
申请号 CN201510764278.0 申请日期 2015.11.11
申请人 同济大学;上海天粹自动化设备有限公司 发明人 王占山;沈正祥;来颖;程鑫彬;江浩;苏静;崔勇
分类号 F26B9/06(2006.01)I;F26B21/00(2006.01)I;F26B25/00(2006.01)I 主分类号 F26B9/06(2006.01)I
代理机构 上海正旦专利代理有限公司 31200 代理人 张磊
主权项 一种光学元件化学湿法清洗后的干燥装置,由干燥槽、鼓风机、空气加热器、空气高效过滤器和洁净气体屏蔽静电消除器组成,其特征在于:干燥槽内设置洁净气体屏蔽静电消除器,干燥槽的循环空气出口对准鼓风机的循环空气进口,鼓风机的循环空气出口对准空气加热器的循环空气进口,空气加热器的循环空气出口对准干燥槽的循环空气进口,构成空气循环回路;鼓风机、空气加热器和洁净气体屏蔽静电消除器分别连接控制器;干燥槽上设有可开闭的盖子;通过加热空气循环回路上经过超过滤的洁净空气,对湿法清洗工艺中脱水后的光学元件进行干燥,利用洁净气体屏蔽静电消除器产生的离子消除元件表面静电,保持元件表面在干燥的过程中不吸附微粒,避免干燥过程的二次污染;控制循环空气温度为室温~65℃,调节精度0.2℃,循环空气出口风速为3m/s~35m/s。
地址 200092 上海市杨浦区四平路1239号