发明名称 一种PCB曝光图形正确性验证方法
摘要 本发明公开了一种PCB曝光图形正确性验证方法,其实现方式是:将标定板放在带有真空吸盘的精密平台上,标定板图形为X、Y方向间距均为a的实心圆阵列,CCD相机通过图像匹配法测得实心圆坐标,PCB基板通过曝光显影得到与标定板相同的实心圆图形,同样方法测得PCB基板实心圆坐标,将标定板和PCB基板测量的坐标值进行平移和旋转处理后,对比判断曝光图形正确性。本发明适用于PCB直写曝光领域或半导体直写曝光技术领域,比传统通过对准及测量判断图形正确性更加精确。
申请公布号 CN105278260A 申请公布日期 2016.01.27
申请号 CN201510816000.3 申请日期 2015.11.20
申请人 合肥芯碁微电子装备有限公司 发明人 陆敏婷
分类号 G03F7/20(2006.01)I 主分类号 G03F7/20(2006.01)I
代理机构 合肥天明专利事务所 34115 代理人 娄岳;奚华保
主权项 一种PCB曝光图形正确性验证方法,其特征在于,包括如下步骤:1)将标定板放入直写曝光设备的精密平台上,并进行真空吸附定位,所述标定板在X方向和Y方向都有一系列等间距的实心圆MARK;2)通过直写曝光设备的CCD图像采集系统测量标定板上不同实心圆的中心坐标,标定板实心圆MARK中心坐标测量结果为q,坐标矩阵如下:<maths num="0001" id="cmaths0001"><math><![CDATA[<mrow><mi>q</mi><mo>=</mo><mfenced open = '[' close = ']'><mtable><mtr><mtd><mrow><mo>(</mo><msub><mi>x</mi><mn>11</mn></msub><mo>,</mo><msub><mi>y</mi><mn>11</mn></msub><mo>)</mo><mo>(</mo><msub><mi>x</mi><mn>12</mn></msub><mo>,</mo><msub><mi>y</mi><mn>12</mn></msub><mo>)</mo><mo>...</mo><mo>(</mo><msub><mi>x</mi><mrow><mn>1</mn><mi>m</mi></mrow></msub><mo>,</mo><msub><mi>y</mi><mrow><mn>1</mn><mi>m</mi></mrow></msub><mo>)</mo></mrow></mtd></mtr><mtr><mtd><mrow><mo>(</mo><msub><mi>x</mi><mn>21</mn></msub><mo>,</mo><msub><mi>y</mi><mn>21</mn></msub><mo>)</mo><mo>(</mo><msub><mi>x</mi><mn>22</mn></msub><mo>,</mo><msub><mi>y</mi><mn>22</mn></msub><mo>)</mo><mo>...</mo><mo>(</mo><msub><mi>x</mi><mrow><mn>2</mn><mi>m</mi></mrow></msub><mo>,</mo><msub><mi>y</mi><mrow><mn>2</mn><mi>m</mi></mrow></msub><mo>)</mo></mrow></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>.</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>.</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>.</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>.</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>.</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>.</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><mrow><mo>(</mo><msub><mi>x</mi><mrow><mi>n</mi><mn>1</mn></mrow></msub><mo>,</mo><msub><mi>y</mi><mrow><mi>n</mi><mn>1</mn></mrow></msub><mo>)</mo><mo>(</mo><msub><mi>x</mi><mrow><mi>n</mi><mn>2</mn></mrow></msub><mo>,</mo><msub><mi>y</mi><mrow><mi>n</mi><mn>2</mn></mrow></msub><mo>)</mo><mo>...</mo><mo>(</mo><msub><mi>x</mi><mrow><mi>n</mi><mi>m</mi></mrow></msub><mo>,</mo><msub><mi>y</mi><mrow><mi>n</mi><mi>m</mi></mrow></msub><mo>)</mo></mrow></mtd></mtr></mtable></mfenced></mrow>]]></math><img file="FDA0000852970790000011.GIF" wi="728" he="383" /></maths>其中n为实心圆MARK的行数,m为实心圆MARK的列数;3)将PCB基板置于精密平台上,曝光面聚焦在PCB基板表面,对PCB基板曝光标定板图形后显影;4)再将PCB基板置于精密平台上,通过CCD图像采集系统测量PCB基板上不同实心圆的中心坐标,PCB基板实心圆MARK中心坐标测量结果为Q,坐标矩阵如下:<maths num="0002" id="cmaths0002"><math><![CDATA[<mrow><mi>Q</mi><mo>=</mo><mfenced open = '[' close = ']'><mtable><mtr><mtd><mrow><mo>(</mo><msub><mi>X</mi><mn>11</mn></msub><mo>,</mo><msub><mi>Y</mi><mn>11</mn></msub><mo>)</mo><mo>(</mo><msub><mi>X</mi><mn>12</mn></msub><mo>,</mo><msub><mi>Y</mi><mn>12</mn></msub><mo>)</mo><mo>...</mo><mo>(</mo><msub><mi>X</mi><mrow><mn>1</mn><mi>m</mi></mrow></msub><mo>,</mo><msub><mi>Y</mi><mrow><mn>1</mn><mi>m</mi></mrow></msub><mo>)</mo></mrow></mtd></mtr><mtr><mtd><mrow><mo>(</mo><msub><mi>X</mi><mn>21</mn></msub><mo>,</mo><msub><mi>Y</mi><mn>21</mn></msub><mo>)</mo><mo>(</mo><msub><mi>X</mi><mn>22</mn></msub><mo>,</mo><msub><mi>Y</mi><mn>22</mn></msub><mo>)</mo><mo>...</mo><mo>(</mo><msub><mi>X</mi><mrow><mn>2</mn><mi>m</mi></mrow></msub><mo>,</mo><msub><mi>Y</mi><mrow><mn>2</mn><mi>m</mi></mrow></msub><mo>)</mo></mrow></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>.</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>.</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>.</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>.</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>.</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><mo>.</mo></mtd></mtr><mtr><mtd><mrow><mo>(</mo><msub><mi>X</mi><mrow><mi>n</mi><mn>1</mn></mrow></msub><mo>,</mo><msub><mi>Y</mi><mrow><mi>n</mi><mn>1</mn></mrow></msub><mo>)</mo><mo>(</mo><msub><mi>X</mi><mrow><mi>n</mi><mn>2</mn></mrow></msub><mo>,</mo><msub><mi>Y</mi><mrow><mi>n</mi><mn>2</mn></mrow></msub><mo>)</mo><mo>...</mo><mo>(</mo><msub><mi>X</mi><mrow><mi>n</mi><mi>m</mi></mrow></msub><mo>,</mo><msub><mi>Y</mi><mrow><mi>n</mi><mi>m</mi></mrow></msub><mo>)</mo></mrow></mtd></mtr></mtable></mfenced></mrow>]]></math><img file="FDA0000852970790000012.GIF" wi="774" he="382" /></maths>5)指定统一的坐标系,将坐标矩阵q和Q平移至该坐标系的坐标原点,并旋转坐标矩阵q和Q至与该坐标系的夹角为0°,得到平移和旋转后的坐标矩阵L和K,再将坐标矩阵L和K相减得到差值坐标矩阵H;6)根据差值坐标矩阵H定量分析曝光图形不同坐标位置处畸变量的大小。
地址 230088 安徽省合肥市高新区创新大道2800号创新产业园二期H2楼533室