发明名称 应用于磁约束聚变装置的高精度磁场倾斜角测量系统
摘要 本发明属于一种磁约束等离子体诊断装置,具体涉及一种应用于磁约束聚变装置的高精度磁场倾斜角测量系统,它包括安装在聚变等离子体中的中性束注入系统,聚变等离子体的外部设有前端光学镜头,前端光学镜头与光学调制系统连接,光学调制系统通过光纤与光栅连接,光栅与光纤阵列以及光电转化系统相对,光纤阵列以及光电转化系统与锁相放大器连接,同时光学调制系统与锁相放大器连接从而对后者提供参考信号,锁相放大器与数据采集和控制电脑连接。其优点是,可靠性好,测量精度也非常高,既可以应用于弱斯塔克效应下等离子体磁场偏转角的测量,也可用于其他线偏振光偏振方向的高精度和高速测量。
申请公布号 CN105277906A 申请公布日期 2016.01.27
申请号 CN201410246532.3 申请日期 2014.06.05
申请人 核工业西南物理研究院 发明人 余德良;陈文锦
分类号 G01R33/02(2006.01)I;G01J4/00(2006.01)I 主分类号 G01R33/02(2006.01)I
代理机构 核工业专利中心 11007 代理人 高尚梅
主权项 应用于磁约束聚变装置的高精度磁场倾斜角测量系统,其特征在于:它包括安装在聚变等离子体(1)中的中性束注入系统(2),聚变等离子体(1)的外部设有前端光学镜头(3),前端光学镜头(3)与光学调制系统(4)连接,光学调制系统(4)通过光纤(5)与光栅(6)连接,光栅(6)与光纤阵列以及光电转化系统(7)相对,光纤阵列以及光电转化系统(7)与锁相放大器(8)连接,同时光学调制系统(4)与锁相放大器(8)连接从而对后者提供参考信号,锁相放大器(8)与数据采集和控制电脑(9)连接。
地址 610041 四川省成都市武侯区二环路南三段3号
您可能感兴趣的专利