检测和防止光攻击的系统和方法

摘要

本公开涉及检测和防止光攻击的系统和方法，说明了用于检测电子设备中的光故障注入和/或防止光故障注入在电子设备中引起可利用异常的各种系统和方法。这些各种系统和方法可以包括能够检测或防止激光注入攻击的系统和方法，其可以包括一个或多个小尺寸互补金属氧化物硅(CMOS)光检测电路，或者可以屏蔽一个或多个晶体管不受底面激光注入攻击的结构。

主权项

一种集成电路，形成在半导体衬底上，用于检测激光注入攻击，包括：第一扩散区，在所述半导体衬底中，所述第一扩散区形成第一晶体管的第一区；以及第二扩散区，在所述半导体衬底中，所述第二扩散区形成第二晶体管的第二区，其中，所述第一扩散区的大小不同于所述第二扩散区的大小，以使得在所述激光注入攻击期间，由所述第一扩散区接受或捐献的第一电荷不同于由所述第二扩散区捐献或接受的第二电荷。