发明名称 Method for fabricating nonvolatile memory devices
摘要 3차원 구조의 비휘발성 메모리 장치의 제조 방법이 제공된다. 비휘발성 메모리 장치의 제조 방법은 반도체 기판 상에, 서로 다른 식각율을 갖는 제 1 및 제 2 절연막들이 적어도 2층 이상 번갈아 적층된 스택 구조물을 형성하고, 제 1 및 제 2 절연막들을 관통하여, 반도체 기판과 연결된 활성 기둥들을 형성하고, 활성 기둥들 사이에 스택 구조물을 관통하는 트렌치들을 형성하여, 라인형 스택 구조물들을 형성하고, 서로 인접한 라인형 스택 구조물들에 걸쳐, 라인형 스택 구조물들의 상면들과 접촉하는 수평 지지대들을 형성하고, 제 2 절연막들을 제거하여, 제 1 절연막들 사이에 개구부들을 형성하고, 개구부들 내에 국소적으로 도전 패턴들을 형성하는 것을 포함한다.
申请公布号 KR101589275(B1) 申请公布日期 2016.01.27
申请号 KR20090016406 申请日期 2009.02.26
申请人 삼성전자주식회사 发明人 채수두;문희창;최시영;이명범;김한수;조후성;김기현
分类号 H01L21/8247;H01L27/115 主分类号 H01L21/8247
代理机构 代理人
主权项
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