发明名称 | 使用实时示波器的S-参数测量 | ||
摘要 | 本发明涉及使用实时示波器的S-参数测量。提供了一种用于使用实时示波器确定被测设备的散射参数的方法。所述方法包括基于当从信号发生器生成信号时由实时示波器测量的第一电压计算具有N个端口的被测设备的每一个端口的反射系数,其中N大于一。所述方法还包括确定被测设备的每一个端口的插入损耗系数,包括基于当从信号发生器生成信号时由实时示波器测量的第二电压计算要测量的被测设备的端口的插入损耗系数。 | ||
申请公布号 | CN105277800A | 申请公布日期 | 2016.01.27 |
申请号 | CN201510422210.4 | 申请日期 | 2015.07.17 |
申请人 | 特克特朗尼克公司 | 发明人 | K.谭;J.J.皮克德 |
分类号 | G01R27/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R27/28(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 马红梅;刘春元 |
主权项 | 一种用于使用实时示波器确定被测设备的散射参数的方法,包括:确定具有N个端口的被测设备的每一个端口的反射系数,其中N是大于或等于一的整数,包括: 以电阻器端接未被测量的被测设备的端口, 以及,基于当从信号发生器生成信号时由数字示波器测量的第一电压计算被测设备的端口的反射系数;以及确定被测设备的每一个端口的插入损耗系数,包括基于当从信号发生器生成信号时由数字示波器测量的第二电压计算被测设备的端口的插入损耗系数;以及通过同步触发器提供信号发生器与数字示波器之间的绝对时间参考。 | ||
地址 | 美国俄勒冈州 |