| 发明名称 | 一种光检测方法及电子设备 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种光检测方法及电子设备，所述光检测方法应用于电子设备中，所述电子设备具有光子晶体层、感光层；所述光检测方法包括：利用所述光子晶体层透射出第一光线的第一部分，以及反射出所述第一光线的第二部分；所述第一光线由所述第一部分和所述第二部分组成，所述第二部分的光波波长为第一波长；利用所述感光层获取所述第一部分的光强值；获取N次所述第一部分的光强值，并基于得到的N个光强值计算所述第一光线的基色光参数，N≥3。 | ||
| 申请公布号 | CN105277277A | 申请公布日期 | 2016.01.27 |
| 申请号 | CN201410351024.1 | 申请日期 | 2014.07.22 |
| 申请人 | 联想（北京）有限公司 | 发明人 | 阳光;张振华 |
| 分类号 | G01J1/42(2006.01)I | 主分类号 | G01J1/42(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人 | 蒋雅洁;任媛 |
| 主权项 | 一种光检测方法，该方法应用于电子设备中，其特征在于，所述电子设备具有光子晶体层、感光层；所述光检测方法包括：利用所述光子晶体层透射出第一光线的第一部分，以及反射出所述第一光线的第二部分；所述第一光线由所述第一部分和所述第二部分组成，所述第二部分的光波波长为第一波长；利用所述感光层获取所述第一部分的光强值；获取N次所述第一部分的光强值，并基于得到的N个光强值计算所述第一光线的基色光参数，N≥3。 | ||
| 地址 | 100085 北京市海淀区上地西路6号 | ||