电子元件测试治具及使用此测试治具的电子元件测试方法

摘要

本发明公开一种电子元件测试治具以及使用此测试治具的电子元件测试方法。电子元件测试治具供测试电子元件时使用，其中电子元件的第一侧面具有第一光反射部。测试治具包含承载装置以及第一光学定位装置。承载装置具有内凹部，内凹部的底部形成承载面。第一光学定位装置设置于承载装置的第一侧。第一光学定位装置具有第一光线收发部，第一光线收发部可发射光线进入内凹部以及接收来自内凹部的光线。当电子元件位于测试位置时，第一光线收发部正对第一光反射部。电子元件测试方法包含：提供前述的测试治具；将电子元件放置于承载面上；以及对电子元件进行定位测试。

主权项

一种电子元件测试治具，供测试一电子元件时使用，其中该电子元件的一第一侧面具有第一光反射部，该电子元件测试治具包含：承载装置，具有内凹部，该内凹部的底部形成一承载面；以及第一光学定位装置，设置于该承载装置的一第一侧，该第一光学定位装置具有第一光线收发部，该第一光线收发部可发射光线进入该内凹部以及接收来自内凹部的光线；其中当该电子元件位于一测试位置时，该第一光反射部正对该第一光线收发部；其中当该电子元件位于该测试位置时，该第一光线收发部与该第一光反射部的距离介于0到8mm。