| 摘要 |
1. Снабженный покрытием режущий инструмент, содержащий подложку и покрытие, причем покрытие содержитслой TiCN MTCVD ислой α-AlO,при этом слой α-AlOдемонстрирует рентгенодифрактограмму, измеренную с использованием излучения CuKα и развертки θ-2θ, причем коэффициент текстуры TC(hkl) определяется по формуле Харриса,где I(hkl) - измеренная интенсивность (интегрированная площадь) отражения (hkl), I(hkl) - стандартная интенсивность согласно PDF-карточке ICDD № 00-010-0173, n - число отражений, используемых при расчете,используемыми отражениями (hkl) являются (012), (104), (110), (113), (116), (300), (214) и (0 0 12), и при этом TC(0 0 12) составляет более 5, предпочтительно более 6, а наиболее предпочтительно более 7, и при этомполная ширина на половине максимума (FWHM) пика кривой качания плоскости (0 0 12) α-AlOс использованием рентгеновской дифракции, измеренной на задней поверхности режущего инструмента, составляет FWHM менее 30º, предпочтительно менее 26º, более предпочтительно менее 22º, и при этомслой TiCN демонстрирует рентгенодифрактограмму, измеренную с использованием излучения CuKα, причем отношение между интенсивностью по интегрированной площади пика 220 и интенсивностью по интегрированной площади пика 311, I/I, составляет менее 3, предпочтительно менее 2, наиболее предпочтительно менее 1.2. Режущий инструмент по п. 1, при этом разница Δ между FWHM дифракционного пика (0 0 12) при рентгеновской дифракции слоя α-AlOна передней поверхности режущего инструмента и FWHM дифракционного пика (0 0 12) при рентгеновской дифракции α-AlOна задней поверхности режущего инструмента составляет Δ >0,2, предпочтительно Δ >0,3, наиболее предпочтительно Δ >0,4.3. Режущий инструмент по п. 1, при этом разница Δ между FWHM дифракц� |
