发明名称 OXIDE SEMICONDUCTOR FILM AND FORMATION METHOD THEREOF
摘要 본 발명은 결정성 산화물 반도체막을 제공한다. 결정성 In-Ga-Zn 산화물을 포함하는 타깃에 이온을 충돌시킴으로써, 평판상의 In-Ga-Zn 산화물이 분리된다. 평판상의 In-Ga-Zn 산화물에서, 갈륨 원자와 아연 원자와 산소 원자를 포함한 제 1 층, 아연 원자와 산소 원자를 포함한 제 2 층, 인듐 원자와 산소 원자를 포함한 제 3 층, 및 갈륨 원자와 아연 원자와 산소 원자를 포함한 제 4 층이 순차적으로 적층된다. 결정성을 유지하면서 평판상의 In-Ga-Zn 산화물이 기판 위에 퇴적된 후에 제 2 층을 가스화하여 배기한다.
申请公布号 KR20160009626(A) 申请公布日期 2016.01.26
申请号 KR20157035079 申请日期 2014.05.13
申请人 SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD. 发明人 YAMAZAKI SHUNPEI
分类号 H01L21/02;C23C14/08;C23C14/34;C23C14/35;H01L29/24;H01L29/786 主分类号 H01L21/02
代理机构 代理人
主权项
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