发明名称 X-RAY INSPECTION APPARATUS AND X-RAY INSPECTION METHOD
摘要 대상물 안에 존재하는 이물 등을 보다 고 분해능으로, 또한, 높은 신뢰성으로 검출한다. X선관(31)과 X선 검출 장치(22) 사이의 공간에 설정된, 스캔 방향에 평행한 복수의 단층면의 프레임 데이터가, 검출된 프레임 데이터에 근거해 작성된다. 이 작성은, X선 빔의 팬상(Fan shape)의 확대와 복수의 단층상의 검출면으로부터의 높이 방향의 위치의 상이에 따라 수행된다. 복수의 단층면의 프레임 데이터로부터 라미노그래피 법에 근거해 단층상이 각각 작성된다. 이 각 단층상에서의 화소치의 변화에 따른 엣지 정보가 화소 마다 연산되고, 그 엣지 정보의 3차원 분포가 작성된다. 이 엣지 정보가, 복수의 단층면을 관통하는 방향으로 탐색된다. 이 탐색의 결과, 엣지 정보의 최대치를 나타내는 화소가 검출되고, 그 검출 화소에 위치적으로 대응하는, 복수의 단층상의 화소 만이 1매의 합성 화상으로 합성된다.
申请公布号 KR20160009046(A) 申请公布日期 2016.01.25
申请号 KR20157035367 申请日期 2015.01.23
申请人 JOB CORPORATION 发明人 YAMAKAWA TSUTOMU;YAMAMOTO SHUICHIRO;YAMASAKI MASASHI
分类号 G01N23/04;A61B6/02;G01T7/00 主分类号 G01N23/04
代理机构 代理人
主权项
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