Das Integrieren VLSI-kompatibler Rippen-Strukturen mit selektivem Epitaxialwachstum und das Fertigen von Vorrichtungen darauf
摘要
<p>Unterschiedliche n- und p-Typen von Vorrichtungs-Rippen werden durch epitaxiales Wachsenlassen erster Epitaxialbereiche eines Materials eines ersten Typs aus einer Substratoberfläche an einer Unterseite von ersten Gräben ausgebildet, die zwischen flachen-Grabenisolations(STI)-Bereichen ausgebildet sind. Die STI-Bereiche und erste-Graben-Höhen sind mindestens 1,5 mal deren Breite. Die STI-Bereiche werden weggeätzt, um die obere Fläche des Substrats zur Ausbildung von zweiten Gräben zwischen den ersten Epitaxialbereichen freizulegen. Eine Abstandsmaterialschicht ist in den zweiten Gräben auf Seitenwänden der ersten Epitaxialbereiche ausgebildet. Zweite Epitaxialbereiche eines Materials eines zweiten Typs werden aus der Substratoberfläche an einer Unterseite der zweiten Gräben zwischen den ersten Epitaxialbereichen wachsen gelassen. N- und p-Typ-Rippen-Paare können aus dem ersten und zweiten Epitaxialbereich gebildet werden. Die Rippen werden miteinbezogen und weisen verminderte Defekte aus einer Materialschnittflächengitterfehlanpassung auf.</p>
申请公布号
DE112013007039(T5)
申请公布日期
2016.01.21
申请号
DE20131107039T
申请日期
2013.06.28
申请人
INTEL CORPORATION
发明人
GOEL, NITI;PILLARISETTY, RAVI;RACHMADY, WILLY;DEWEY, GILBERT;CHU-KUNG, BENJAMIN;KAVALIEROS, JACK T.;RADOSAVLJEVIC, MARKO;METZ, MATTHEW V.;MUKHERJEE, NILOY;CHAU, ROBERT S.