在冶金容器中的测量

摘要

一种由软件控制的计算机装置和/或由专用硬件所实施的方法被设计为探测冶金容器（1）中的导电目标材料（M），例如熔化金属或半导体材料。在该方法中，在该导电目标材料（M）和一个传感器（4）之间的相对位移期间从插入到该目标材料（M）的该传感器（4）获取一个测量信号，该测量信号表明在该传感器（4）附近的电导率。生成该测量信号以便表示在该传感器（4）周围一个电磁场中的瞬间变化，该电磁场通过操作该传感器（4）中的至少一个线圈（82；92）被创造。基于该测量信号，生成一个信号特征曲线以便表明该电导率作为该相对移动的函数。该方法使得能够在任何详细程度上在该容器（1）中探测该目标材料（M）的内部分布。可以分析该信号特征曲线以便提供关于通过例如物质成分、熔化程度、混合程度来区分的区域/层（S，M1，M2）的信息。

主权项

在冶金容器(1)中探测导电目标材料(M)的方法，所述方法包括以下步骤：将传感器(4)插入到该导电目标材料(M)中；在该导电目标材料(M)和该传感器(4)之间的相对移动期间从该传感器(4)获取一个测量信号，该测量信号表明在该传感器(4)附近的电导率；以及基于该测量信号生成表明该电导率作为该相对移动的函数的一个信号特征曲线，其中该方法进一步包括以下步骤：操作该传感器(4)中的至少一个线圈(82；92)以便在该传感器(4)周围生成一个电磁场，并生成该测量信号以便表示该电磁场中的瞬间变化。