发明名称 光电探测器光谱响应测试系统及其测量方法
摘要 光电探测器光谱响应测试系统及其测量方法,属于光学辐射定标测量仪器及方法,解决现有测试系统成本昂贵且难以保证测量精度的问题,以实现光谱响应的高精度测量。本发明的测试系统,包括正弦调制光源、聚光透镜、单色仪、滤光片轮、暗箱、电机驱动电路,微控制器控制电路、前置放大电路、正弦锁相放大电路、数据采集卡和计算机,所述正弦调制光源为正弦调制的白炽灯、卤钨灯或LED光源。本发明使用正弦调制光源,采用可编程器件实现正弦锁相放大的方式,测量并绘制在300~900nm范围内的光电探测器光谱响应,实现高精度测量的同时,降低了设备成本和设计难度。
申请公布号 CN105258798A 申请公布日期 2016.01.20
申请号 CN201510759890.9 申请日期 2015.11.10
申请人 华中科技大学;深圳华中科技大学研究院 发明人 赵茗;汪少锋;杨振宇
分类号 G01J3/28(2006.01)I;G01J3/10(2006.01)I 主分类号 G01J3/28(2006.01)I
代理机构 华中科技大学专利中心 42201 代理人 曹葆青
主权项 一种光电探测器光谱响应测试系统,包括正弦调制光源(1)、聚光透镜(2)、单色仪(3)、滤光片轮(4)、暗箱(12)、电机驱动电路(13)、微控制器控制电路(14)、前置放大电路(15)、数据采集卡(17)和计算机(18);所述暗箱(12)内装设有准直光学系统(5)、分光镜(6)、第一电动转台(10)和第二电动转台(11),第一电动转台(10)上安装有标准Si光电探测器(7),第二电动转台(11)上安装有参考Si光电探测器(9);正弦调制光源(1)发出的光经过聚光透镜(2),进入单色仪(3)进行分光,经滤光片轮(4)滤除高阶光谱,输出单色光进入暗箱(12),再经准直光学系统(5)准直为平行光,投射到分光镜(6)上,进行1:1分光,透射光被标准Si光电探测器(7)接收,反射光被参考Si光电探测器(9)接收;标准Si光电探测器(7)输出电信号和参考Si光电探测器(9)输出电信号通过前置放大电路(15)放大,经过正弦锁相放大器(16)放大并输出测量的直流量,之后由数据采集卡(17)送至计算机(18)进行数据处理;计算机(18)加载有单色仪控制模块、滤光片轮控制模块、电机控制模块和数据采集模块,计算机(18)通过电机控制模块向微控制器控制电路(14)发送指令,控制电机驱动电路(13)驱动第一电动转台(10)和第二电动转台(11),通过单色仪控制模块、滤光片轮控制模块和数据采集模块完成单色仪控制、滤光片轮控制和数据采集功能;其特征在于:所述正弦调制光源(1)为正弦调制的白炽灯、卤钨灯或LED光源;所述前置放大电路(15)和数据采集卡(17)之间串连有正弦锁相放大电路(16),正弦锁相放大电路输入端连接前置放大电路(15),正弦锁相放大电路输出端连接数据采集卡(17),正弦锁相放大电路将前置放大电路(15)输出的正弦信号进行锁相放大并输出直流量,由数据采集卡(17)送至计算机(18)进行数据处理,计算待测光电探测器的光谱响应度。
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