发明名称 外延膜形成方法、真空处理设备、半导体发光元件制造方法、半导体发光元件和照明装置
摘要 提供一种外延膜形成方法,使用该方法可以借助于溅射法生产由第III族氮化物半导体形成的+c-极性外延膜,还提供一种适用于该外延膜形成方法的真空处理设备。例如,溅射法用于在使用加热器(103)加热至任意温度的α-Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>基板(107)上外延生长第III族氮化物半导体薄膜。首先,α-Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>基板(107)以该α-Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>基板(107)离加热器(103)预定距离(d2)设置这样的方式设置在包括加热器(103)的基板保持器(99)上。接着,在α-Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>基板(107)距加热器(103)预定距离(d2)设置的情况下,第III族氮化物半导体薄膜的外延膜形成于α-Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>基板(107)上。
申请公布号 CN102959140B 申请公布日期 2016.01.20
申请号 CN201180032579.4 申请日期 2011.04.12
申请人 佳能安内华股份有限公司 发明人 醍醐佳明;石桥启次
分类号 H01L21/203(2006.01)I;C30B29/38(2006.01)I;C23C14/06(2006.01)I;C23C14/34(2006.01)I;H01L21/683(2006.01)I;H01L33/32(2010.01)I 主分类号 H01L21/203(2006.01)I
代理机构 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人 刘新宇;李茂家
主权项 一种外延膜形成方法,所述方法在借助使用加热器加热的α‑Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>基板上通过溅射法而外延生长第III族氮化物半导体薄膜,所述方法包括以下步骤:保持所述α‑Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>基板距所述加热器的基板对向面预定距离;和在保持距所述基板对向面预定距离的状态下,将第III族氮化物半导体薄膜的外延膜形成于使用所述加热器加热至100~1200℃温度的所述α‑Al<sub>2</sub>O<sub>3</sub>基板上。
地址 日本神奈川县