发明名称 立式大量程高精度光学平面测试装置
摘要 立式大量程高精度光学平面测试装置属于光学测试仪器研究领域,该装置包括升降支腿、支撑底台、水平转台、配重块、精密转台、连接轴、长导轨承载板、两个反射镜、第一测角装置、第二测角装置、长导轨、电控系统和数据采集分析系统,两个反射镜在长导轨上等间隔移动,通过两个测角装置获得测试点之间的角度变化值,用此角度变化值和间隔量的乘积可获得测试点间的高度变化值,从而测出平面镜在此方向上的轮廓形状;经过精密转台实现对平面镜在不同方向上的轮廓形状测试,最后对测试数据进行分析计算而获得平面镜整体、全口径面形轮廓图。本发明可实现大口径光学平面反射镜在使用过程中的面形校准与监测,对测试环境敏感度低,可达到高测试精度。
申请公布号 CN102865829B 申请公布日期 2016.01.20
申请号 CN201210312545.7 申请日期 2012.08.29
申请人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 发明人 马冬梅;宋立维;王涛
分类号 G01B11/24(2006.01)I 主分类号 G01B11/24(2006.01)I
代理机构 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人 田春梅
主权项 立式大量程高精度光学平面测试装置,其特征在于,该装置包括升降支腿(9)、支撑底台(10)、水平转台(11)、配重块(12)、垂直精密转台(13)、连接轴(14)、长导轨承载板(15)、第一反射镜(16)、第二反射镜(17)、第一测角装置(18)、第二测角装置(19)、长导轨(20)、电控系统(23)和数据采集分析系统(22),支撑底台(10)固定在升降支腿(9)上,水平转台(11)置于支撑底台(10)上,垂直精密转台(13)置于水平转台(11)上,配重块(12)固定在垂直精密转台(13)的一端,连接轴(14)的一端固定在垂直精密转台(13)的一端,长导轨承载板(15)固定在连接轴(14)的另一端,长导轨(20)固定在长导轨承载板(15)上;电控系统(23)与垂直精密转台(13)和长导轨(20)的内部电路驱动部件连接,用于控制垂直精密转台(13)的转动角度和长导轨(20)上承载的第一反射镜(16)和第二反射镜(17)的直线移动位置;数据采集分析系统(22)与第一测角装置(18)和第二测角装置(19)连接,用于采集与计算分析测角数据;第一反射镜(16)与第二反射镜(17)分别滑动连接在长导轨(20)上,第一测角装置(18)与第二测角装置(19)均固定在长导轨(20)上,被测试平面反射镜(21)位于长导轨(20)的前方,第一测角装置(18)发出的光线经过第一反射镜(16)反射后入射到被测试平面反射镜(21)上,经被测试平面反射镜(21)反射后由第一测角装置(18)接收;第二测角装置(19)发出的光线经过第二反射镜(17)反射后入射到被测试平面反射镜(21)上,经被测试平面反射镜(21)反射后由第二测角装置(19)接收;所述第一测角装置(18)与第二测角装置(19)均为带有自准光源的哈德曼波前测试仪。
地址 130033 吉林省长春市东南湖大路3888号
您可能感兴趣的专利